高速 交变检测型 霍尔IC

SEIKO精工S-5725系列是采用CMOS技术开发的高精度霍尔IC，具有高灵敏度，高速检测和低电流消耗的特性。当SEIKO精工S-5725系列检测到磁场强度时，输出电压会发生变化。 磁通密度和极性变化。 将S-5725系列与磁铁一起使用可以检测各种设备中的旋转状态。通过使用小型SOT-23-3或超小型SNT-4A封装，可以进行高密度安装。 具有精确的磁特性，S-5725系列可以使操作与磁铁组合的系统中的分散变小。注意该产品旨在用于一般电子设备，例如消费类电子产品，办公设备和通信设备。 医疗设备或汽车设备中的产品，包括汽车音响，无钥匙进入和发动机控制单元。

 极性检测: 交变检测 

 磁性检测逻辑*1 : 检测S极时VOUT = "L" 检测S极时VOUT = "H" 

 输出方式: N沟道开路漏极输出、CMOS输出

 电源电压范围 : VDD = 2.7 V ~ 5.5 V

 工作温度范围 : Ta =-40°C ~+85°C 

 内置电源开 / 关控制电路 : 可延长电池的使用寿命 (仅限SNT-4A)

 无铅 (Sn 100%)、无卤素

封装SOT-23-3和SNT-4A

 磁性灵敏度: 

BOP = 0.8 mT (典型值)

BOP = 1.8 mT (典型值) 

BOP = 3.0 mT (典型值) BOP = 7.0 mT (典型值)

 驱动周期 (消耗电流) :

tCYCLE = 50µs (IDD = 1400.0µA) (典型值) 

tCYCLE = 1.25 ms (IDD = 60.0µA) (典型值) 

tCYCLE = 6.05 ms (IDD = 13.0µA) (典型值)

应用领域

便携式游戏机

家用电器

房屋设备

工业设备

SEIKO精工S-5725封装SOT-23-3N沟道开路漏极输出产品

S-5725CNBL9-M3T1U                     S-5725CNBL0-M3T1U

S-5725CNBL1-M3T1U                     S-5725DNBL1-M3T1U

S-5725ENBH1-M3T1U                     S-5725ENBL9-M3T1U

S-5725ENBL0-M3T1U                     S-5725ENBL1-M3T1U

SEIKO精工S-5725封装SOT-23-3CMOS输出产品

S-5725CCBL9-M3T1U                    S-5725CCBL0-M3T1U

S-5725ECBH0-M3T1U                    S-5725ECBH1-M3T1U

S-5725CCBL1-M3T1U                    S-5725DCBL1-M3T1U

S-5725ECBL0-M3T1U                    S-5725ECBL1-M3T1U

S-5725ECBL9-M3T1U

SEIKO精工S-5725封装SNT-4A N沟道开路漏极输出产品

S-5725ENBH3-I4T1U              S-5725INBH0-I4T1U

S-5725JNBH0-I4T1U              S-5725HNBH0-I4T1U

SEIKO精工S-5725封装SNT-4A CMOS输出产品

S-5725ECBL9-I4T1U                     S-5725JCBH0-I4T1U

S-5725JCBH1-I4T1U                     S-5725HCBH0-I4T1U

S-5725HCBH1-I4T1U                     S-5725ICBH0-I4T1U

S-5725ECBL0-I4T1U                     S-5725ECBH0-I4T1U

S-5725ICBH1-I4T1U